扬州温度冲击试验箱生产厂家 高低温冲击试验箱 售后及时

高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，*工业、**、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。WDCJ-100

高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。
高低温冲击试验箱执行与满足标准：
　　1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；
　　2、GB/T2423.2-2001；
　　3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
　　4. 标GJB150.3-86；
　　5. 标GJB150.4-86；
　　6. 标GJB150.5-86；
　　7、GJB150.5-86温度冲击试验；
　　8、GJB360.7-87温度冲击试验；
　　9、GJB367.2-87 405温度冲击试验；
　　10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；
　　11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；
　　12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；
　　10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；
　　11、GB/T 2423.22-2002温度变化；
　　12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；
　　13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

不同温段冲击：由多级蒸发器结构相应切断，控制蒸发面积与制冷量膨胀阀匹配，使用制冷系统输出合理减少加热器中和的输出量，达到恒定节能；另有独立的换气阀门，在排气（常温恢复）时动作引入环境空气。
进气口在环境温度曝露时吸进外面的空气。
排气口从机械室和试验区排出热气定时预定功能。
预先设定试验开始时间，试验箱自动开始起动并准备开始试验。
曝露时间缩短功能。
试验区的下风温度达到曝露温度后转换到下一个曝露的功能。
前处理/后处理功能。
在循环试验开始前或结束后，试样被曝露在高温环境中（热处理）维持一定时间。
干燥运转功能。
试验结件下运转一定的时间。

主控制器采用进口日本“OYO”双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏，可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态，PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式，仅需设定温度，就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警，配置485通讯接口及运行软件。设定精度：温度：0.1℃ 时间：Is用户程序容量：10×99段。运行方式：程序运行，恒定运行。独立**温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。温度恢复时间小于等于5分钟。